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OLED显示器的DC生产测试中测量误差的来源

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OLED显示器的DC生产测试中测量误差的来源
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OLED显示器的DC生产测试中测量误差的来源

【摘要】:
测量误差的来源是由测试系统的精度,以及在对OLED给出信号和进行测量期间所未曾想到的瞬态过程引起的.在进行快速的生产测试时,在稳定状态下进行精确DC测量的能力,是与尽可能快地完成测试的需求相互牵制的.测试周期的时间长短是由源/测量以及开关操作组成的,而这一周期时间可以有非常大的变化范围.比如,如果2400被设置成用最短的测试时间间隔(aperture)完成操作,即0.01NPLC,那么源/测量过程

测量误差的来源是由测试系统的精度,以及在对OLED给出信号和进行测量期间所未 曾想到的瞬态过程引起的.在进行快速的生产测试时,在稳定状态下进行精确DC测量的能力,是与尽可能快地完成测试的需求相互牵制的.测试周期的时间长短是 由源/测量以及开关操作组成的,而这一周期时间可以有非常大的变化范围.比如,如果2400被设置成用最短的测试时间间隔(aperture)完成操作, 即0.01 NPLC,那么源/测量过程就可以在1ms内完成.如果把积分(integration)周期或测量时间增加到1.0 NPLC,那么测量时间就增加到大约17ms.用牺牲测试速度来增加测试时间间隔的好处是,可以得到极优的噪声抑制,也就是在比较“安静”的状态下进行测试.

  为了得到稳定和可重复的测量,关键一点是被测参数在源/测量期间达到和保持在一个稳定值上.这个概念对于OLED测试是特别重要的.OLED的电与 光的特性是与时间有关的,而且呈现出滞后效应1,2.与比较熟悉的基于半导体的光电发射器相比,OLED的电特性则非常之不同.由于这个原因,我们在试图 设计和实现一个自动化测试系统之前,必须对测试参数的瞬态行为有一个完整的理解.瞬态过程的特性也有助于测试协议的开发,并可简化测试数据的分析,以及增 进对测试系统的可信度.信号源延迟时间,也就是,从把信号加到OLED至测量开始之间的这一可变的时间延迟,也许可以用来降低瞬态效应.图1表示了在测试 系统被设置为NPLC = 10以及信号源延迟从0.0005变化到10秒的条件下,对四像素同时测试时的每个像素的漏电流.为了达到小于1nA的稳态漏电流,就至少需要数秒的时间.
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